Accessory / Holder

CYCLOPS

透/反射率测量专用支架

透/反射率测量平台,以垂直导轨和样品台规范光路位置,适合薄膜、玻璃与平面材料测试。

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CYCLOPS 透/反射率测量专用支架

PRODUCT FACTS

产品特点

以下信息用于初步选型;实际配置与适配性请结合应用条件确认。

KEY SPECIFICATIONS

关键规格

平台形态
模块化透反射率测量平台
核心结构
配重底座 / 垂直导轨 / 通光样品台 / 双光纤架
反射组件
TA 转接件用于垂直反射采集
遮光组件
遮光罩 / 光陷阱
典型样品
玻璃、硅片、薄膜、滤光片与平面材料

MODEL OPTIONS

型号选项

具体型号以正式技术资料与合同约定为准。

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